Ультразвуковой контроль	Рентгеновский контроль	Вихретоковый контроль

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ КОНТРОЛЬ

Моделирование ультразвуковых полей преобразователей и антенных решёток и для изучения рассеивания ультразвука на дефектах. Позволяет оптимизировать выбор преобразователей, как при проведении контроля, так и на этапе их разработки. 

 

CIVA позволяет проводить расчёты полей при отражении от дефектов различной формы для различного типа дефектов и для объектов контроля произвольной формы. Расчёты проводятся в рамках дифракционной теории акустики, но с учётом эффектов отражения от неровных границ и с учётом трансформации типов волн при отражении. Позволяет  проводить расчёты для разных схем контроля: совмещённой режим работы, режим тандем, TOFD, иммерсионный режим работы. Предусмотрена возможность эмуляции механического и электронного сканирования.

 

В программе предусмотрена возможность работы с многослойными объектами, с объектами с анизотропией скорости звука, характерной для аустенитных сталей, для крупнозернистых материалов, для композитных материалов.

 

Для построения кривых вероятности выявления дефектов (POD-кривых) разработан специальный алгоритм, с помощью которого можно многократно эмулировать процесс многократного проведения контроля с использованием обычных преобразователей и антенных решёток. При построении POD-кривых можно изменять практически все параметры проведения измерений: параметры трещины, расположение преобразователя и прочее.

Моделирование радиографического контроля. При эмуляции можно выбирать тип источника, тип плёнки и модель поглощение в объекте контроля произвольной формы. При расчёте поглощения в объекте контроля учитываются такие эффекты, как эффект Комптона, Рэлеевское рассеивание, фотоэлектрической взаимодействие и эффект генерации позитрона и электрона при прохождении около ядра высокоэнергетического фотона.

 

Моделирование результатов вихретоковго контроля. При эмуляции можно создать нужную конструкцию катушки или нескольких катушек, задать тип дефекта в объекте контроля произвольной формы. Пользователю предоставляются широкие возможность изучать вид поля в катушке с разными дефектами. В программе можно проводить эмуляцию сканирования по поверхности объекта контроля несколькими преобразователями с возможностью анализа поля в каждой точке апертуры.

 

Сайт компании: http://www.extende.com